技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 上海堅融實業I-V曲線，C-V曲線圖半導體器件特性分析
上海堅融實業I-V曲線，C-V曲線圖半導體器件特性分析
日期：2014-07-03瀏覽：3877次
上海堅融實業I-V曲線，C-V曲線圖半導體器件特性分析解決方案
上海堅融實業結合美國吉時利KEITHLEY4200-SCS成功推出了I-V曲線，C-V測線半導體器件特性分析解決方案。當前對于實驗室研究的所有半導體器件，zui常見的電特性分析方法是：
I-V曲線圖：電流與電壓 (I-V) 測試顯示了流過的直流電流和電子器件以及器件兩端直流電壓之間的關系。
C-V測線圖：電容與電壓 (C-V) 測試用于分析半導體材料和結構參數，例如表面俘獲電荷密度、固定電荷和氧化層電荷。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
摻雜類型 – 氧化層厚度 – 平帶電壓 – 閾值電壓 – 襯底摻雜 – zui大耗盡層寬度 – 反型層到平衡的靈敏度：電壓掃描率和方向 – 光效應和溫度效應。
I-V 曲線分析：
電荷建立 (測量電壓 - 時間圖，用低電流源)； 氧化層電容測定； 與 C-V 曲線比較。
C-V 曲線 (準靜態) 結合 C-V 曲線：
表面電位 Ψs 與施加電壓的關系 – Si (100) 的表面態密度 Dit = f (Ψs) 與 Si (111) 的相比：方向和后處理退火的影響。
C-V 曲線 (高頻：100kHz)：
移動氧化層電荷密度 (偏壓溫度應力：200°C，10 分鐘，±10V)
半導體器件實驗室的核心是參數分析儀。簡單易用的4200-SCS半導體特性分析系統能進行實驗室級的直流和脈沖器件特性分析、實時繪制以及高精密和亞飛安分辨率的分析。4200-SCS 結合了 4200-CVU 的集成選件，現能讓半導體測試用戶靈活地創建集成了 DC、脈沖和 C-V 測試功能的方案。與傳統模擬曲線跟蹤軟件非常類似，ACS 基礎版能快速產生電子器件或封裝產品的一系列曲線，而且能靈活、容易地對結果進行保存、比較和關聯。
4200-SCS半導體特性分析特性：
測量時間短 – 安裝簡單、直觀的測試選擇向導并且內建測試；
無需編寫代碼 - ACS 具有直觀的 GUI 能快速簡化 I-V 測試、分析和結果；
4200-SCS半導體優化器件測試、驗證和分析應用；
硬件靈活性 – 動態地加入或移除設備以滿足獨立測試的需要；
預裝應用庫 – 一組極豐富的超快、易于訪問的測試庫；
模塊化的靈活軟件架構便于擴展系統并使系統應用能滿足的測試需要；
免費可選后臺軟件許可，能容易地在另一臺PC上開發新的測試序列，無需掛起正在執行工作的系統。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創DEWETRON
聯系我們
在線客服：
